Medida holográfica de deformaciones utilizando un registro interferométrico

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cic.lugarDesarrolloCentro de Investigaciones Ópticas es
cic.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersiones
dc.date.accessioned2016-03-30T16:16:34Z
dc.date.available2016-03-30T16:16:34Z
dc.identifier.urihttps://digital.cic.gba.gob.ar/handle/11746/1844
dc.titleMedida holográfica de deformaciones utilizando un registro interferométricoes
dc.typeDocumento de conferenciaes
dcterms.abstractSe presenta en esta comunicación una nueva técnica holográfica por doble exposición, para el estudio de deformaciones colocando un interferograma entre el objeto a analizar y un medio de registro fotográfico. Este novedoso método permite la obtención simultánea de los datos cuantitativos y de la estructura topográfica de la deformación. Se destaca su simplicidad, ya que no requiere más condiciones de estabilidad que las usadas en todo proceso holográfico, emplea un número mínimo de elementos ópticos y no necesita ser llevada a cabo en un laboratorio, pudiendo ser usada como herramienta de fácil manejo para el control de calidad, ofreciendo la ventaja de poder trabajar tanto a tiempo diferido como a tiempo real.es
dcterms.creator.authorRodríguez, N.es
dcterms.creator.authorTorroba, Robertoes
dcterms.creator.authorGallardo, Marioes
dcterms.creator.authorGaravaglia, Mario J.es
dcterms.extentp. 437-446es
dcterms.isPartOf.issueSegundaes
dcterms.isPartOf.seriesConferencia Regional sobre Ensayos no Destructivoses
dcterms.issued1981
dcterms.languageEspañoles
dcterms.licenseAttribution 4.0 International (BY 4.0)es
dcterms.subjectópticaes
dcterms.subjectestructura topográficaes
dcterms.subjectHolografíaes
dcterms.subject.materiaCiencias Físicases
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