Documento de conferencia

Medida holográfica de deformaciones utilizando un registro interferométrico

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Resumen

Se presenta en esta comunicación una nueva técnica holográfica por doble exposición, para el estudio de deformaciones colocando un interferograma entre el objeto a analizar y un medio de registro fotográfico. Este novedoso método permite la obtención simultánea de los datos cuantitativos y de la estructura topográfica de la deformación. Se destaca su simplicidad, ya que no requiere más condiciones de estabilidad que las usadas en todo proceso holográfico, emplea un número mínimo de elementos ópticos y no necesita ser llevada a cabo en un laboratorio, pudiendo ser usada como herramienta de fácil manejo para el control de calidad, ofreciendo la ventaja de poder trabajar tanto a tiempo diferido como a tiempo real.

Palabras clave
óptica
estructura topográfica
Holografía
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