Documento de conferencia . Jornadas de Investigación y Transferencia de la Facultad de Ingeniería ; II Jornadas

Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP

Kang, Kyung W. | Llorente, Carlos Luis | Echarri, Juan M.
Abstract: El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio demicroscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP,detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos.
Abstract: El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio demicroscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP,detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos.

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