Documento de conferencia . Jornadas de Investigación y Transferencia de la Facultad de Ingeniería ; II Jornadas

Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP

Kang, Kyung W. | Llorente, Carlos Luis | Echarri, Juan M.
Resumen: El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio demicroscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP,detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos.
Resumen: El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio demicroscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP,detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos.

Mas informacion

  • Fecha de disponibilidad: 28 de abril de 2016
  • Fecha de carga: 28 de abril de 2016
  • Fecha de publicación: mayo de 2013
  • Direccion de acceso a la obra: http://digital.cic.gba.gob.ar/handle/11746/2013
  • Licencia: Attribution 4.0 International (BY 4.0)

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