Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP
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| cic.lugarDesarrollo | Universidad Nacional de La Plata | es |
| cic.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | es |
| dc.date.accessioned | 2016-04-28T16:27:45Z | |
| dc.date.available | 2016-04-28T16:27:45Z | |
| dc.identifier.uri | https://digital.cic.gba.gob.ar/handle/11746/2013 | |
| dc.title | Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP | es |
| dc.type | Documento de conferencia | es |
| dcterms.abstract | El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio demicroscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP,detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos. | es |
| dcterms.creator.author | Kang, Kyung W. | es |
| dcterms.creator.author | Llorente, Carlos Luis | es |
| dcterms.creator.author | Echarri, Juan M. | es |
| dcterms.extent | p. 660-665 | es |
| dcterms.identifier.url | Enlace externo | es |
| dcterms.isPartOf.issue | II Jornadas | es |
| dcterms.isPartOf.item | Informe científico de investigador: Llorente, Carlos Luis (2012-2014) | es |
| dcterms.isPartOf.series | Jornadas de Investigación y Transferencia de la Facultad de Ingeniería | es |
| dcterms.issued | 2013-05 | |
| dcterms.language | Español | es |
| dcterms.license | Attribution 4.0 International (BY 4.0) | es |
| dcterms.subject | microscopio | es |
| dcterms.subject | Espectroscopía | es |
| dcterms.subject.materia | Ingeniería Mecánica | es |
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