La importancia de la metrología en los desarrollos científico-tecnológicos
| cic.institucionOrigen | Centro de Investigación en Metrología y Calidad | es |
| cic.isFulltext | true | es |
| cic.isPeerReviewed | true | es |
| cic.lugarDesarrollo | Centro de Investigación en Metrología y Calidad | es |
| cic.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | es |
| dc.date.accessioned | 2020-12-15T14:27:58Z | |
| dc.date.available | 2020-12-15T14:27:58Z | |
| dc.identifier.uri | https://digital.cic.gba.gob.ar/handle/11746/10765 | |
| dc.title | La importancia de la metrología en los desarrollos científico-tecnológicos | es |
| dc.type | Documento de conferencia | es |
| dcterms.abstract | La metrología está relacionada con todas y cada una de las actividades de la humanidad. Y ayuda a todas las ciencias existentes para facilitar su entendimiento, aplicación, evaluación y desarrollo. En toda fábrica y laboratorio se realizan constantemente mediciones de temperatura, presión, fuerza, longitud, y de todo tipo asociadas a algún proceso productivo de un artículo que deseamos adquirir, desde una silla, hasta un automóvil o un remedio recetado. En todos los casos quisiéramos confiar en las cualidades de dicho producto. Que se cumplan las funciones para las que fue diseñado, que en un laboratorio bioquímico se mida bien para acertar un diagnóstico médico, o simplemente no pagar de más al comprar un artículo pre-medido. En una medición hay que considerar cuatros aspectos muy importantes: el instrumento de medición, el entorno donde se realiza la medición, el procedimiento adecuado y las personas responsables de la medición. Todo este sistema de metrología se relaciona con los sistemas de la calidad, que impactan directamente en los productos y servicios, puesto que garantizan confiabilidad. | es |
| dcterms.creator.author | Pierre Castell, Andrea Verónica | es |
| dcterms.isPartOf.series | Encuentro de Centros CIC (La Plata, 2020) | es |
| dcterms.issued | 2020-11 | |
| dcterms.language | Español | es |
| dcterms.license | Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International (BY-NC-SA 4.0) | es |
| dcterms.subject | Metrología | es |
| dcterms.subject | Calidad | es |
| dcterms.subject | calibraciones | es |
| dcterms.subject | trazabilidad | es |
| dcterms.subject | Confiabilidad | es |
| dcterms.subject.materia | Ingenierías y Tecnologías | es |
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- Nombre:
- Pierre Castell - Encuentro de Centros CIC 2020.pdf-PDFA.pdf
- Tamaño:
- 312.3 KB
- Formato:
- Adobe Portable Document Format
- Descripción:
- Presentación (5 diap.)